Μετάβαση στο περιεχόμενο
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Γλώσσα
Όλα τα πεδία
Τίτλος
Συγγραφέας
Θέμα
Ταξιθετικός Αριθμός
ISBN/ISSN
Ετικέτα
Αναζήτηση
Σύνθετη
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYS...
Εμφάνιση παραπομπής
Αποστολή με SMS
Αποστολή με email
Εκτύπωση
Αποθήκευση
Αποθήκευση σε RefWorks
Αποθήκευση σε EndNoteWeb
Αποθήκευση σε EndNote
Μόνιμος σύνδεσμος
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς:
Mackenzie, R
,
Liddle, J
,
Grovenor, C
,
Cerezo, A
Μορφή:
Conference item
Έκδοση:
1990
Τεκμήρια
Περιγραφή
Παρόμοια τεκμήρια
Λεπτομερής προβολή
Παρόμοια τεκμήρια
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF III-V COMPOUND SEMICONDUCTORS
ανά: Cerezo, A, κ.ά.
Έκδοση: (1986)
COMPOSITIONAL HOMOGENEITY OF METALORGANIC CHEMICAL VAPOR-DEPOSITION GROWN III-V COMPOUND SEMICONDUCTOR EPILAYERS
ανά: Mackenzie, R, κ.ά.
Έκδοση: (1991)
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
ανά: Grovenor, C, κ.ά.
Έκδοση: (1987)
ULTRAHIGH RESOLUTION CHARACTERIZATION OF COMPOUND SEMICONDUCTORS USING PULSED LASER ATOM PROBE TECHNIQUES
ανά: Mackenzie, R, κ.ά.
Έκδοση: (1991)
PULSED LASER ATOM PROBE ANALYSIS OF TERNARY AND QUATERNARY III-V EPITAXIAL LAYERS
ανά: Liddle, J, κ.ά.
Έκδοση: (1988)