ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING

অনুরূপ উপাদানগুলি

• ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
  অনুযায়ী: Czernuszka, J, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (1991)
• ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF DEFECTS IN SEMICONDUCTORS
  অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (1993)
• ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
  অনুযায়ী: Czernuszka, J, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (1991)
• ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF INTERFACIAL DEFECTS IN STRAINED SILICON-GERMANIUM LAYERS ON SILICON
  অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (1993)
• Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
  অনুযায়ী: Wilkinson, A, অন্যান্য
  প্রকাশিত: (1994)