ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING

Benzer Materyaller

• ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
  Yazar:: Czernuszka, J, ve diğerleri
  Baskı/Yayın Bilgisi: (1991)
• ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF DEFECTS IN SEMICONDUCTORS
  Yazar:: Wilkinson, A, ve diğerleri
  Baskı/Yayın Bilgisi: (1993)
• ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
  Yazar:: Czernuszka, J, ve diğerleri
  Baskı/Yayın Bilgisi: (1991)
• ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF INTERFACIAL DEFECTS IN STRAINED SILICON-GERMANIUM LAYERS ON SILICON
  Yazar:: Wilkinson, A, ve diğerleri
  Baskı/Yayın Bilgisi: (1993)
• Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
  Yazar:: Wilkinson, A, ve diğerleri
  Baskı/Yayın Bilgisi: (1994)