Joan edukira
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Hizkuntza
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SE...
Erreferentzia bihurtu
SMS
Bidali
Imprimir
Erregistroa esportatu
Nora RefWorks
Nora EndNoteWeb
Nora EndNote
Permanent link
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
Show other versions (1)
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak:
Czernuszka, J
,
Long, N
,
Hirsch, P
Formatua:
Journal article
Argitaratua:
1991
Aleari buruzko argibideak
Deskribapena
Other Versions (1)
Antzeko izenburuak
MARC erregistroa
Antzeko izenburuak
ANALYSIS OF DEFECTS IN BULK SEMICONDUCTORS USING ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING
nork: Czernuszka, J, et al.
Argitaratua: (1991)
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF DEFECTS IN SEMICONDUCTORS
nork: Wilkinson, A, et al.
Argitaratua: (1993)
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING (ECCI) OF DISLOCATIONS IN BULK SPECIMENS
nork: Czernuszka, J, et al.
Argitaratua: (1991)
ELECTRON CHANNELING CONTRAST IMAGING OF INTERFACIAL DEFECTS IN STRAINED SILICON-GERMANIUM LAYERS ON SILICON
nork: Wilkinson, A, et al.
Argitaratua: (1993)
Effects of surface relaxation on electron channelling contrast images of misfit dislocations
nork: Wilkinson, A, et al.
Argitaratua: (1994)