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Electrical and structural anal...
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Electrical and structural analysis of high-dose Si implantation in GaN
书目详细资料
Main Authors:
Zolper, J
,
Tan, H
,
Williams, J
,
Zou, J
,
Cockayne, D
,
Pearton, S
,
Crawford, M
,
Karlicek, R
格式:
Journal article
出版:
1997
持有资料
实物特征
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