Skip to content
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Sprog
Alle Felter
Titel
Forfatter
Fag
Klassifikationsnummer
ISBN/ISSN
Tag
Find
Udvidet
Some recent advances in three...
Citér dette
Stav dette
Email dette
Udskriv
Eksportér post
Eksportér til RefWorks
Eksportér til EndNoteWeb
Eksportér til EndNote
Permanent link
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
Bibliografiske detaljer
Main Authors:
Cerezo, A
,
Smith, G
,
Setna, R
,
Hyde, J
Format:
Conference item
Udgivet:
1994
Beholdninger
Beskrivelse
Lignende værker
Medarbejdervisning
Beskrivelse
Summary:
Lignende værker
RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
af: Smith, G, et al.
Udgivet: (1994)
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
af: Godfrey, T, et al.
Udgivet: (1989)
RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
af: Grovenor, C, et al.
Udgivet: (1985)
RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
af: Grovenor, C, et al.
Udgivet: (1990)
RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
af: Grovenor, C, et al.
Udgivet: (1990)