Hoppa till innehåll
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Språk
Alla fält
Titel
Upphovsman
Ämne
Signum
ISBN/ISSN
Tagg
Sök
Avancerad
Some recent advances in three...
Hänvisa
Textmeddelande
Skicka per e-post
Skriv ut
Exportera posten
Exportera till: RefWorks
Exportera till: EndNoteWeb
Exportera till: EndNote
Permanent länk
Some recent advances in three dimensional atomic scale microanalysis with the atom probe (invited)
Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsmän:
Cerezo, A
,
Smith, G
,
Setna, R
,
Hyde, J
Materialtyp:
Conference item
Publicerad:
1994
Beståndsuppgifter
Beskrivning
Liknande verk
Katalogiseringsuppgifter
Liknande verk
RECENT DEVELOPMENTS IN POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE MICROANALYSIS
av: Smith, G, et al.
Publicerad: (1994)
FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
av: Godfrey, T, et al.
Publicerad: (1989)
RECENT DEVELOPMENTS IN THE STUDY OF SEMICONDUCTORS BY ATOM PROBE MICROANALYSIS.
av: Grovenor, C, et al.
Publicerad: (1985)
RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
av: Grovenor, C, et al.
Publicerad: (1990)
RECENT DEVELOPMENTS IN ATOM PROBE MICROANALYSIS OF MATERIALS WITH ULTRAFINE MICROSTRUCTURES
av: Grovenor, C, et al.
Publicerad: (1990)