ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE ON SILICON

ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE ON SILICON

Palladium silicide coated silicon specimens have been formed by thermally evaporating palladium onto clean field evaporated n-type silicon (100) tips. The thin palladium overlayer is reacted to form palladium silicide by thermal annealing at 675 K. The tips were studied by field ion imaging, pulsed...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ
Հիմնական հեղինակներ:	King, R, Mackenzie, R, Smith, G, Cade, N
Ձևաչափ:	Conference item
Հրապարակվել է:	1995

Նմանատիպ նյութեր

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM-SILICIDE-COATED SILICON EMITTERS
‌: King, R, և այլն
Հրապարակվել է: (1995)

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE STUDIES OF PALLADIUM SILICIDE COATED SILICON EMITTERS
‌: King, R, և այլն
Հրապարակվել է: (1994)

FIELD-EMISSION AND ATOM-PROBE FIELD-ION MICROSCOPE ANALYSIS OF GRIDDED SILICON FIELD EMITTERS
‌: Huang, M, և այլն
Հրապարակվել է: (1994)

ATOM-PROBE ANALYSIS AND FIELD-EMISSION STUDIES OF SILICON
‌: King, R, և այլն
Հրապարակվել է: (1994)

FIELD-ION MICROSCOPE ATOM PROBE STUDIES OF METALLIC GLASSES
‌: Bhatti, A, և այլն
Հրապարակվել է: (1985)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF VANADIUM
‌: Godfrey, T, և այլն
Հրապարակվել է: (1989)

Silicon and silicide nanowires : applications, fabrication, and properties /
‌: Huang, Yu, editor, և այլն
Հրապարակվել է: (2014)

ULTRA-HIGH-RESOLUTION CHEMICAL-ANALYSIS BY FIELD-ION MICROSCOPY, ATOM PROBE AND POSITION-SENSITIVE ATOM-PROBE TECHNIQUES
‌: Grovenor, C, և այլն
Հրապարակվել է: (1992)

AN ATOM PROBE STUDY OF THE ANOMALOUS FIELD EVAPORATION OF ALLOYS CONTAINING SILICON
‌: Miller, M, և այլն
Հրապարակվել է: (1981)

Study of Silicide Formation in Large Diameter Monocrystalline Silicon
‌: Abdugafur T. Mamadalimov, և այլն
Հրապարակվել է: (2024-06-01)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF SEMICONDUCTOR-MATERIALS
‌: Grovenor, C, և այլն
Հրապարակվել է: (1983)

Study of optical and luminescence properties of silicon — semiconducting silicide — silicon multilayer nanostructures
‌: Galkin N.G., և այլն
Հրապարակվել է: (2017-01-01)

Properties of “Higher Manganese Silicide-Silicon” Heterostructure
‌: Kobiljon K. ugli Kurbonaliev, և այլն
Հրապարակվել է: (2023-09-01)

Characterization of oxidation and reduction of a Palladium-Rhodium alloy by atom-probe tomography
‌: Li, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2012)

Characterization of Oxidation and Reduction of a Palladium-Rhodium Alloy by Atom-Probe Tomography
‌: Li, T, և այլն
Հրապարակվել է: (2012)

Three-dimensional atomic mapping of ligands on palladium nanoparticles by atom probe tomography
‌: Kyuseon Jang, և այլն
Հրապարակվել է: (2021-07-01)

AN ATOM PROBE STUDY OF THE ANOMALOUS EVAPORATION OF ALLOYS CONTAINING SILICON
‌: Miller, M, և այլն
Հրապարակվել է: (1980)

In situ atomic-level observation of the formation of platinum silicide at platinum-silicon oxide interfaces under electron irradiation
‌: Takeshi Nagase, և այլն
Հրապարակվել է: (2018-05-01)

FRACTURE OF FIELD-ION MICROSCOPE SPECIMENS
‌: Wilkes, T, և այլն
Հրապարակվել է: (1972)

Pulsed Ion Microscope to Probe Quantum Gases
‌: C. Veit, և այլն
Հրապարակվել է: (2021-02-01)

FIELD-ION MICROSCOPY AND ATOM PROBE MICROANALYSIS OF NB3SN WIRES
‌: Rose, J, և այլն
Հրապարակվել է: (1986)

Erbium silicided schottky source/drain silicon nanowire N-metal–oxide–semiconductor field-effect transistors
‌: Tan, Eu Jin, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

THE CHARACTERIZATION OF SILICON SURFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE ANALYSIS
‌: Grovenor, C, և այլն
Հրապարակվել է: (1982)

INVESTIGATIONS OF METAL-SILICON INTERFACES BY TIME-OF-FLIGHT ATOM PROBE.
‌: Grovenor, C, և այլն
Հրապարակվել է: (1983)

FIELD-ION MICROSCOPE ATOM-PROBE ANALYSIS OF THE EFFECT OF RRA HEAT-TREATMENT ON THE MATRIX STRENGTHENING PRECIPITATES IN ALLOY AL-7150
‌: Warren, P, և այլն
Հրապարակվել է: (1992)

Development of metal silicides for deep submicron polycrystalline silicon gate
‌: Pang, Chong Hau
Հրապարակվել է: (2008)

Obtaining manganese silicide films on a silicon substrate by the diffusion method
‌: N. F. Zikrillayev, և այլն
Հրապարակվել է: (2022-10-01)

Publisher Correction: Three-dimensional atomic mapping of ligands on palladium nanoparticles by atom probe tomography
‌: Kyuseon Jang, և այլն
Հրապարակվել է: (2021-09-01)

Bringing atom probe tomography to transmission electron microscopes
‌: Gerald Da Costa, և այլն
Հրապարակվել է: (2024-11-01)

Nanoscale Microstructural Analyses by Atom Probe Field Ion Microscopy
‌: Hono, K., և այլն
Հրապարակվել է: (1998-01-01)

ANALOG INVESTIGATIONS OF ELECTRIC-FIELD DISTRIBUTION AND ION TRAJECTORIES IN FIELD-ION MICROSCOPE
‌: Birdseye, P, և այլն
Հրապարակվել է: (1974)

A STUDY OF THE EARLY STAGES OF TEMPERING OF IRON-CARBON MARTENSITES BY ATOM PROBE FIELD-ION MICROSCOPY
‌: Miller, M, և այլն
Հրապարակվել է: (1981)

ATOM PROBE FIELD-ION MICROSCOPY STUDY OF AGING BEHAVIOR OF A CO-FREE MARAGING-STEEL
‌: Sha, W, և այլն
Հրապարակվել է: (1991)

Focused ion-beam specimen preparation for atom probe field-ion microscopy characterization of multilayer film structures
‌: Larson, D, և այլն
Հրապարակվել է: (1999)

ANALYSIS OF DATA FROM AN OPTICAL ATOM-PROBE
‌: Cooper, A, և այլն
Հրապարակվել է: (1994)

Controlled and explosive silicidation of metal/amorphous-silicon multilayer thin films
‌: Clevenger, Lawrence Alfred
Հրապարակվել է: (2005)

Vertical silicon nanowire diode with nickel silicide induced dopant segregation
‌: Li, Xiang, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

Ni(Pt) alloy silicidation on (100) Si and poly-silicon lines
‌: Pey, Kin Leong, և այլն
Հրապարակվել է: (2013)

OBTAINING A CATHODE TARGET OF SILICIDES FOR VACUUM ION-PLASMA SOURCES
‌: I. A. Ivanov, և այլն
Հրապարակվել է: (2018-07-01)

Imaging of radiation damage using complementary field ion microscopy and atom probe tomography.
‌: Dagan, M, և այլն
Հրապարակվել է: (2015)