EFFECTS OF HIGH UNIAXIAL STRESS ON FAR INFRA-RED IMPURITY SPECTRA OF HIGH-PURITY NORMAL-TYPE AND PARA-TYPE SILICON

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	Cooke, R, Nicholas, R, Stradling, R, Portal, J, Askenazy, S
التنسيق:	Journal article
منشور في:	1978

مواد مشابهة