EFFECTS OF HIGH UNIAXIAL STRESS ON FAR INFRA-RED IMPURITY SPECTRA OF HIGH-PURITY NORMAL-TYPE AND PARA-TYPE SILICON

Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριοι συγγραφείς: Cooke, R, Nicholas, R, Stradling, R, Portal, J, Askenazy, S
Μορφή: Journal article
Έκδοση: 1978