EFFECTS OF HIGH UNIAXIAL STRESS ON FAR INFRA-RED IMPURITY SPECTRA OF HIGH-PURITY NORMAL-TYPE AND PARA-TYPE SILICON

Bibliografische gegevens
Hoofdauteurs: Cooke, R, Nicholas, R, Stradling, R, Portal, J, Askenazy, S
Formaat: Journal article
Gepubliceerd in: 1978