EFFECTS OF HIGH UNIAXIAL STRESS ON FAR INFRA-RED IMPURITY SPECTRA OF HIGH-PURITY NORMAL-TYPE AND PARA-TYPE SILICON

Библиографические подробности
Главные авторы: Cooke, R, Nicholas, R, Stradling, R, Portal, J, Askenazy, S
Формат: Journal article
Опубликовано: 1978