Joan edukira
VuFind
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Hizkuntza
Eremu guztiak
Izenburua
Egilea
Gaia
Sailkapena
ISBN/ISSN
Etiketa
Bilatu
Aurreratua
Bias-dependent STM investigati...
Erreferentzia bihurtu
SMS
Bidali
Imprimir
Erregistroa esportatu
Nora RefWorks
Nora EndNoteWeb
Nora EndNote
Permanent link
Bias-dependent STM investigations of trimethylgallium adsorption on Si(001) at elevated temperatures
Xehetasun bibliografikoak
Egile Nagusiak:
Norenberg, H
,
Bowler, DR
,
Briggs, G
Formatua:
Conference item
Argitaratua:
1998
Aleari buruzko argibideak
Deskribapena
Antzeko izenburuak
MARC erregistroa
Antzeko izenburuak
ADSORPTION OF TRIMETHYLGALLIUM ON SEMICONDUCTOR SURFACES - STM OBSERVATIONS
nork: Mayne, A, et al.
Argitaratua: (1993)
An elevated temperature STM study of the Si(001) c(4x4) surface reconstruction
nork: Norenberg, H, et al.
Argitaratua: (1999)
Elevated-temperature STM study of Ge and Si growth on Si(001) from GeH4 and Si2H6
nork: Owen, J, et al.
Argitaratua: (1997)
IDENTIFICATION OF THE SI(001) MISSING DIMER DEFECT STRUCTURE BY LOW-BIAS VOLTAGE STM AND LDA MODELING
nork: Owen, J, et al.
Argitaratua: (1995)
Comparative STM and RHEED studies of Ge/Si(001) and Si/Ge/Si(001) surfaces
nork: Goldfarb, I, et al.
Argitaratua: (1999)