Accurate Prediction and Reliable Parameter Optimization of Neural Network for Semiconductor Process Monitoring and Technology Development

Herein, novel neural network (NN) methods that improve prediction accuracy and reduce output variance of the optimized input in the gradient method for cross‐sectional data are proposed, and the variability evaluation approach of optimized inputs in the semiconductor process is suggested. Specifical...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Hyeok Yun, Chang-Hyeon An, Hyundong Jang, Kyeongrae Cho, Jeong-Sik Lee, Seungjoon Eom, Choong-Ki Kim, Min-Soo Yoo, Hyun-Chul Choi, Rock-Hyun Baek
Định dạng: Bài viết
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: Wiley 2023-09-01
Loạt:Advanced Intelligent Systems
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://doi.org/10.1002/aisy.202300089

Những quyển sách tương tự