185978 Backenstoss, G. Evaluation of the surface concentration of diffused layers in silicon.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)185978 Backenstoss, Gerhard. Evaluation of the Surface Concentration of Diffused Layers in Silicon.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)185978 Backenstoss, Gerhard. Evaluation of the Surface Concentration of Diffused Layers in Silicon.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.