Electrical and structural analysis of high-dose Si implantation in GaN

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	Zolper, J, Tan, H, Williams, J, Zou, J, Cockayne, D, Pearton, S, Crawford, M, Karlicek, R
التنسيق:	Journal article
منشور في:	1997

مواد مشابهة