Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents /
42
Үндсэн зохиолчид: | , |
---|---|
Формат: | |
Хэл сонгох: | eng |
Хэвлэсэн: |
New York, NY : Springer Science+Business,
2006
|
Нөхцлүүд: |
42
Үндсэн зохиолчид: | , |
---|---|
Формат: | |
Хэл сонгох: | eng |
Хэвлэсэн: |
New York, NY : Springer Science+Business,
2006
|
Нөхцлүүд: |